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行业标准
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
作废
SJ/T 10741-2000
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits
发布日期:
2000-12-28
实施日期:
2001-03-01
分类信息
发布单位或类别:
中国 行业标准-电子
CCS分类:
L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类:
31.200电子学 - 集成电路、微电子学
标准简介
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试
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最后更新时间 2025-08-30
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