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行业标准
JJG 48-2004 硅单晶电阻率标准样片
被代替
JJG 48-2004
硅单晶电阻率标准样片
硅单晶电阻率标准样片
Standard Slice of Single Crystal Silicon Resistivity
发布日期:
2004-09-21
实施日期:
2005-03-21
分类信息
发布单位或类别:
中国 国家计量检定规程
CCS分类:
A56综合 - 计量 - 无线电计量
ICS分类:
17.220计量学和测量、物理现象 - 电学、磁学、电和磁的测量
研制信息
归口单位: 全国无线电计量技术委员会
起草单位: 中国计量科学研究院
起草人: 鲁效明
标准简介
本规程适用于硅单晶阻率标准样片的首次检定、后续检定和使用中的检验
相似标准/计划/法规
JJF 1760-2019
硅单晶电阻率标准样片校准规范
Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
2019-09-27
GB/T 13388-2009
硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
2009-10-30
GB/T 11073-2007
硅片径向电阻率变化的测量方法
Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices
2007-09-11
样片
单晶
最后更新时间 2025-08-30
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