Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
半导体器件 机械和气候试验方法
2022-03-07
KS C IEC 60749-39(2016 Confirm)
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제39부：집적회로에 사용되는 유기 재료 내의 수분 확산도 및 수분 용해도 측정
半导体器件机械和气候试验方法第39部分:半导体器件用有机材料水分扩散率和水溶性的测定
2006-12-26
KS C IEC 60749-39(2021 Confirm)
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제39부：집적회로에 사용되는 유기 재료 내의 수분 확산도 및 수분 용해도 측정
半导体器件机械和气候试验方法第39部分:半导体元件用有机材料中水分扩散率和水溶性的测量
2006-12-26
IEC 60749-39-2021
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
半导体器件.机械和气候试验方法.第39部分:半导体元件用有机材料中水分扩散率和水溶性的测量
2021-11-29
IEC 60749-39-2021 RLV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
半导体器件.机械和气候试验方法.第39部分:半导体元件用有机材料中水分扩散率和水溶性的测量