作废 SJ 2137-1982
硅稳流二极管测试方法总则 硅稳流二极管测试方法总则 General procedures of measurement for silicon current-regulator diodes
发布日期：1982-08-20
实施日期：1983-01-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L41电子元器件与信息技术 - 半导体分立器件 - 半导体二极管
ICS分类：
标准简介
相似标准/计划/法规
总则测试方法硅稳流二极管

最后更新时间 2025-08-27