作废 SJ 2214.3-1982
半导体光敏二极管暗电流的测试方法 半导体光敏二极管暗电流的测试方法 Method of measurement for dark current of semiconductor photodiodes
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
ICS分类：
标准简介

本标准适用于光敏二极管暗电流I(D)的测试

相似标准/计划/法规
SJ/T 2214-2015
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor
2015-04-30
GOST 21316.2-1975
Фотоэлементы. Метод измерения темнового тока
光电池 暗电流测量方法
GOST 11612.4-1984
Фотоумножители. Метод измерения темнового тока
光电倍增管暗阳极电流测量方法
GOST 11612.6-1983
Умножители фотоэлектронные. Методы измерения светового эквивалента шума темнового тока анода
光电倍增管阳极暗电流噪声的光当量的测量方法
GOST 18986.1-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
半导体二极管 直接反向电流测量方法
GOST 19656.2-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока
半导体UHF混频二极管 整流电流的测量方法
GOST 19656.7-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
半导体UHF检测器二极管 电流灵敏度测量方法
GOST 18986.3-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
半导体二极管 直接正向电压和直流正向电流测量方法
SJ/T 2658.3-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 3:Reverse voltage and reverse current
2015-10-10
GOST 18986.13-1974
Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
半导体隧道二极管 测量峰值电流 谷点电流 峰值电压 谷值点电压 投影峰值电压的方法
半导体电流测试方法二极管暗

最后更新时间 2025-08-27