作废 SJ 2214.4-1982
半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
ICS分类：
标准简介

本标准适用于光敏二极管反向击穿电压V(BR)的测试

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最后更新时间 2025-08-27