作废 SJ 2214.9-1982
半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-电子
CCS分类： L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
ICS分类：
标准简介

本标准适用于光敏二、三极管脉冲上升、下降时间t(r)、t(f)的测试

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半导体脉冲下降测试时间

最后更新时间 2025-08-27