作废 SJ 2215.12-1982
半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 Method of measurement for input-to-output capacitance of semiconductor photocouplers
发布日期:1982-11-30
实施日期:1983-07-01
分类信息
标准简介

本标准适用于光耦合器入出间隔离电容C(ISO)的测试

相似标准/计划/法规
GOST 24613.1-1981
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости
光电集成微电路和光电耦合器 输入到输出电容的测量方法
GOST 20398.5-1974
Транзисторы полевые. Метод измерения входной, проходной и выходной емкостей
场效应晶体管 输入传输和输出电容测量技术
GOST 18986.4-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法
ITU-R BT.1204
Measuring methods for digital video equipment with analogue input/output
带模拟输入/输出的数字视频设备的测量方法
1995-10-20
GOST 23089.17-1990
Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器输入和输出电阻的方法
SJ/T 2658.4-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 4:Total capacitance
2015-10-10
GOST 19656.3-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте
半导体UHF混频二极管 中频输出阻抗的测量方法
GOST 19656.5-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения
半导体UHF混合器和检测器二极管 输出噪声比的测量方法
GB/T 30245.2-2013
工业过程测量和控制系统用远程输入输出设备 第2部分:性能评定方法
Remote input and output instruments for industrial process measurement and control systems—Part 2: Performance evaluating methods
2013-12-31
BS 4319-1-1968
Methods of measurement of the electrical properties of electronic tubes and valves (excluding microwave devices)-Essential conditions for measuring equivalent input and output admittances
电子管和电子阀(不包括微波器件)电性能的测量方法
1968-04-30
半导体耦合器间隔电容测试

最后更新时间 2025-08-27