现行 EJ/T 1184-2005
贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定 Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method
发布日期：2005-04-11
实施日期：2005-07-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-核工业
CCS分类： F46能源、核技术 - 核材料、核燃料 - 核材料、核燃料及其分析试验方法
ICS分类： 27.120.30核能工程 - 裂变物质
研制信息

归口单位： 核工业标准化研究所

起草单位： 国营八一四厂

起草人： 彭元明、 蒋敬平

标准简介

本标准规定了分光光度法测定品贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定，其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。当取样量为0.25g四氟化铀时，硅的测定范围为：（10～120）μg/g。在测量范围内，40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定

相似标准/计划/法规
贫化分光微量测定四氟

最后更新时间 2025-08-30