现行 YS/T 362-2006
纯钯中杂质元素的发射光谱分析 纯钯中杂质元素的发射光谱分析 Determination of trace impurities in purity palladium by atomic emission spectrometric
发布日期：2006-05-25
实施日期：2006-12-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 行业标准-有色金属
CCS分类： H15冶金 - 金属化学分析方法 - 贵金属及其合金分析方法
ICS分类： 77.040.30金属材料试验 - 金属材料化学分析
研制信息

归口单位： 全国有色金属标准化技术委员会

起草单位： 贵研铂业股份有限公司

起草人： 方卫、 徐光、 杨玉芳

标准简介

本标准规定了纯钯中杂质元素含量的测定方法。本标准适用于99.95%～99.99%纯钯中杂质元素含量的测定，测定的杂质元素及含量范围见表1

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最后更新时间 2025-08-30