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JJG (电子) 310004-2006 晶体管hEE参数测试仪检定规程
现行
JJG (电子) 310004-2006
晶体管hEE参数测试仪检定规程
晶体管hEE参数测试仪检定规程
Specification for verification of transistor h <subscript EE> parameter testers
发布日期:
实施日期:
分类信息
发布单位或类别:
中国 国家计量检定规程
CCS分类:
ICS分类:
标准简介
相似标准/计划/法规
晶体管
检定
测试仪
参数
hEE
最后更新时间 2025-08-30
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