归口单位: 全国首饰标准化技术委员会
起草单位: 国家首饰质量监督检验中心
起草人: 范积芳、 李素青
本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)
最后更新时间 2025-08-30