现行 QB/T 1135-2006
首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法 首饰 金、银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法 Jewellery-Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods
发布日期:2006-08-19
实施日期:2006-12-01
分类信息
研制信息

归口单位: 全国首饰标准化技术委员会

起草单位: 国家首饰质量监督检验中心

起草人: 范积芳、 李素青

标准简介

本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)

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最后更新时间 2025-08-30