Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Ionizing radiation (total dose)
半导体器件 机械和气候试验方法
2019-06-10
SJ/T 11586-2016
半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
10keV X-ray total dose radiation testing method of semiconductor devices
2016-01-15
ASTM F1892-12(2018)
Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
2018-03-01
UNE-EN 60749-18-2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose)
半导体器件机械和气候试验方法第18部分:电离辐射（总剂量）
2003-11-21
KS C IEC 60749-18(2016 Confirm)
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제18부：이온화 방사(전체 선량)
半导体器件机械和气候试验方法第18部分:电离辐射（总剂量）
2006-11-30
KS C IEC 60749-18
반도체소자 — 기계 및 기후 시험방법 — 제18부：이온화 방사(전체 선량)
半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）
2021-12-29
GB/T 4937.18-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)
2018-09-17
IEC 60749-18-2019 RLV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）
2019-04-10
IEC 60749-18-2019
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第18部分:电离辐射（总剂量）
2019-04-10
DIN EN IEC 60749-18
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2019); German version EN IEC 60749-18:2019
半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射（总剂量）（IEC 60749-18-2019）；德国版本EN IEC 60749-18:2019