现行 GB/T 19501-2013
微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 Microbeam analysis - General guide for electron backscatter diffraction analysis
发布日期：2013-07-19
实施日期：2014-03-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家标准
CCS分类： G04化工 - 化工综合 - 基础标准与通用方法
ICS分类： 71.040.50分析化学 - 物理化学分析方法
研制信息

归口单位： 全国微束分析标准化技术委员会

起草单位： 宝钢集团中央研究院

起草人： 姚雷、 田青超、 郑芳、 顾佳卿、 陈家光

标准简介

本标准规定了电子背散射衍射分析方法。本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析

相似标准/计划/法规
GB/T 18735-2014
微束分析 分析电镜（ＡＥＭ／ＥＤＳ）纳米薄标样通用规范
Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS)
2014-07-24
电子衍射分析散射方法

最后更新时间 2025-09-06