氧化铟锡靶材化学分析方法
Methods for chemical analysis of indium-tin oxide target
2019-12-31
HG/T 5300-2018
铟锡氧化物（ITO）镀膜用折射率匹配硬化膜
Index-matching hardening film for indium tin oxide (ITO)
2018-04-30
JB/T 7777.2-2008
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分:EDTA容量法测定铟量
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material--Part 2:Determination of indium
2008-02-01
JB/T 7777.1-2008
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material--Part 1:Determination of tin content
2008-02-01
JB/T 7777.5-2008
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material--Part 5:Determination of nickel zinc and indium contents
2008-02-01
HG/T 5299-2018
铟锡氧化物（ITO）镀膜用透明聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）硬化薄膜
Optical polyethylene terephthalate (PET) transparent hardening film for indium tin oxide (ITO)
2018-04-30
JB/T 7777.3-2008
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分:丁二酮肟分光光度法测定镍量
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material--Part 3:Determination of nickel content
2008-02-01
JB/T 7777.4-2008
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分：PAN分光光度法测定锌量
Test methods for chemical analysis of silver-tin oxide-indium oxide electric contact material--Part 4:Determination of zinc content
2008-02-01
GB/T 23364.2-2009
高纯氧化铟化学分析方法 第2部分：锡量的测定 苯基荧光酮分光光度法
Methods for chemical analysis of high purity indium oxide - Part 2: Determination of tin content - Phenylfluorone spectrophotometry
2009-03-19
YS/T 1344.3-2020
掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法
Methods for chemical analysis of tin-doped indium oxid powder-Part 3:Phase analysis-X-ray diffraction method
2020-04-16
YS/T 1344.2-2020
掺锡氧化铟粉化学分析方法 第2部分：硅含量的测定 钼蓝光度法
Methods for chemical analysis of tin-doped indium oxid powder-Part 2:Determination of silicon content-Molybdenum blue photometric method
2020-04-16
YS/T 1344.1-2020
掺锡氧化铟粉化学分析方法 第1部分：铁、铝、铅、镍、铜、镉、铬和铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
Methods for chemical analysis of tin-doped indium oxid powder-Part 1:Determination of iron，aluminum，lead，nickel，copper，cadmium，chromium and thallium contents-Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry