归口单位: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位: 江苏协鑫软控设备科技发展有限公司、 中国科学院上海光学精密机械研究所、 深圳市中安测标准技术有限公司
起草人: 薛抗美、 黄修康、 杭寅、 尹继刚、 田野、 张永波、 张毅
本标准规定了蓝宝石单晶位错密度的测量方法。本标准适用于抛光加工后位错密度为0个/cm^2~100 000个/cm^2的蓝宝石单晶位错密度的测量,检测面为{0001},{1120},{1012}.{1010}面
最后更新时间 2025-09-06