归口单位： 全国纳米技术标准化技术委员会
起草单位： 国家纳米科学中心、 纳米技术及应用国家工程研究中心、 北京粉体技术协会
起草人： 朱晓阳、 杨延莲、 高洁、 何丹农、 朱君、 周素红、 张迎
本标准规定了用原子力显微术(Atomic force microscopy，简称AFM)测量纳米颗粒高度来表征纳米颗粒尺寸的方法。本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量
最后更新时间 2025-09-06