现行 GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家标准
CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
研制信息

归口单位： 全国集成电路标准化技术委员会

起草单位： 成都振芯科技股份有限公司、 工业和信息化部电子工业标准化研究院、 工业和信息化部电子第五研究所、 深圳市国微电子有限公司、 深圳市众志联合电子有限公司、 中国电子科技集团公司第二十九研究所

起草人： 陈雁、 罗彬、 郭超、 王会影、 李锟、 蔡志刚、 邬海忠、 钟科

标准简介

本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号(LVDS,Iow voltage differential signaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试

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最后更新时间 2025-09-06