现行 GB/T 37406-2019
电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法 Detection method of degree of sphericity of spherical silica for electronic packaging—Particle dynamic photoelectric projection method
发布日期：2019-05-10
实施日期：2019-12-01
分类信息
发布单位或类别： 中国 国家标准
CCS分类： L90电子元器件与信息技术 - 电子设备与专用材料、零件、结构件 - 电子技术专用材料
ICS分类： 31.030电子学 - 电子技术专用材料
研制信息

归口单位： 全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位： 江苏联瑞新材料股份有限公司、 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、 汉高华威电子（连云港）有限公司

起草人： 曹家凯、 吕福发、 阮建军、 王松宪、 姜兵、 封丽娟、 李冰、 陈进、 夏永生、 戴春明、 马涛

标准简介

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉颗粒球形度、平均球形度及球形度分布的颗粒动态光电投影测试方法。本标准适用于4μm～300μm的电子封装用球形二氧化硅微粉球形颗粒

相似标准/计划/法规
电子球形封装颗粒光电

最后更新时间 2025-09-06