BS ISO 13084-2018
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准
2018-11-16
GB/T 40129-2021
表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准
Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
2021-05-21
ISO 13084-2018
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 用于飞行时间二次离子质谱仪的质谱的校准
2018-11-15
BS ISO 23830-2008
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析 二次离子质谱法 静态二次离子质谱中相对强度标度的重复性和稳定性
2008-12-31
ISO 23830-2008
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析——二次离子质谱法——静态二次离子质谱中相对强度标度的重复性和稳定性
2008-11-05
BS ISO 20411-2018
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数动态二次离子质谱中饱和强度的校正方法
2018-03-14
ISO 20411-2018
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
表面化学分析 - 二次离子质谱法 - 单离子计数动态二次离子质谱法中饱和强度的校正方法
2018-03-09
BS ISO 22048-2004
Surface chemical analysis. Information format for static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析 静态二次离子质谱信息格式
2005-03-31
AS ISO 22048-2006
Surface chemical analysis - Information format for static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析.静态二次离子质谱法的信息格式
2006-10-20
KS D ISO 22048(2020 Confirm)
표면 화학 분석－정적 이차 이온 질량 분광 분석법의 정보 포맷
表面化学分析 - 静态二次离子质谱的信息格式
2005-12-28
ISO 22048-2004
Surface chemical analysis — Information format for static secondary-ion mass spectrometry
表面化学分析——静态二次离子质谱信息格式
2004-08-25
ISO/TS 22933-2022
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
2022-04-01
BS 10/30199193 DC
BS ISO 13084. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Calibration of the mass scale for a time of flight secondary ion mass spectrometer
BS ISO 13084 表面化学分析 二次离子质谱法 飞行时间二次离子质谱仪质量刻度的校准
2010-04-22
BS 07/30138812 DC
BS ISO 23830. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
BS ISO 23830 表面化学分析 二次离子质谱法 静态二次离子质谱中相对强度标度的重复性和稳定性
2007-04-24
BS ISO 17560-2014
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of boron in silicon
表面化学分析 二次离子质谱法 硅中硼的深度剖面分析方法
2014-09-30
BS ISO 12406-2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon
表面化学分析 二次离子质谱法 硅中砷的深度分析方法
2010-11-30
KS D ISO 17560
표면 화학 분석 — 이차 이온 질량분석법 — 실리콘 내의 붕소 깊이분포분석 방법
表面化学分析.二次离子质谱法.硅中硼的深度分析方法
2025-05-12
GB/T 32495-2016
表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon
2016-02-24
GB/T 40109-2021
表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of boron in silicon
2021-05-21
ISO 12406-2010
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of arsenic in silicon
表面化学分析——二次离子质谱法——硅中砷的深度剖面分析方法
2010-11-08