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T/CIE 133-2022 标准详情

T/CIE 133-2022 现行
磁随机存储器件数据保持时间测试方法

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标准状态

2022-08-10
2022-08-10

标准信息

中国电子学会
否
31.200
I6520 集成电路设计
tbQbw86
现行
T/CIE 133-2022
磁随机存储器件数据保持时间测试方法

主要技术内容

本标准给出了磁随机存储（Magnetic Random Access Memory; MRAM）器件数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁随机存储器件的数据保持时间测试和磁随机存储器件的数据保持时间验证。

起草单位

北京航空航天大学、致真存储（北京）科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司

起草人

赵巍胜、彭守仲、芦家琪、李伟祥、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌

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