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GB/T 36613-2018 标准详情

GB/T 36613-2018 现行
发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips

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标准状态

2018-09-17
2019-01-01

标准信息

工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
L45
31.260
国家标准
现行
GB/T 36613-2018
发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips

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