GB/T 4937.2-2006 标准详情

GB/T 4937.2-2006 现行
半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure

标准内容导航

标准状态

2006-08-23
2007-02-01

标准信息

工业和信息化部(电子)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部(电子)
该标准采用国际标准
L40
31.080.01
国家标准
现行
GB/T 4937.2-2006
半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure

相似标准推荐