GB/T 4937.30-2018 标准详情

GB/T 4937.30-2018 现行

半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

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标准状态

发布日期2018-09-17

实施日期2019-01-01

标准信息

批准发布部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

是否采用国际标准该标准采用国际标准

中国标准分类号L40

国际标准分类号31.080.01

标准层级国家标准

标准状态现行

标准号GB/T 4937.30-2018

标准名半导体器件机械和气候试验方法第30部分：非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

标准英文名Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing