GB/T 4937.31-2023 标准详情

GB/T 4937.31-2023 现行

半导体器件机械和气候试验方法第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices（internally induced）

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发布日期2023-05-23

实施日期2023-12-01

批准发布部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

是否采用国际标准该标准采用国际标准

中国标准分类号L40

国际标准分类号31.080.01

标准层级国家标准

标准状态现行

标准号GB/T 4937.31-2023

标准名半导体器件机械和气候试验方法第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）

标准英文名Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices（internally induced）