GB/T 4937.4-2012 标准详情

GB/T 4937.4-2012 现行
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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标准状态

2012-11-05
2013-02-15

标准信息

工业和信息化部(电子)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部(电子)
该标准采用国际标准
L40
31.080.01
国家标准
现行
GB/T 4937.4-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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