SJ/T 11703-2018 标准详情

SJ/T 11703-2018 现行
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

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标准状态

2018-02-09
2018-04-01

标准信息

工业和信息化部
全国集成电路标准化分技术委员会
制定
L55
31.2
信息传输、软件和信息技术服务业
电子
行业标准
现行
SJ/T 11703-2018
数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等

起草人

王琪、张崤君、贾松良 等

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