SJ/T 11705-2018 标准详情
SJ/T 11705-2018
现行
微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
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标准状态
标准信息
起草单位
中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等
起草人
安琪、林建京、张崤君 等
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