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SJ/T 11766-2020 标准详情

SJ/T 11766-2020 现行
光电耦合器件低频噪声参数测试方法

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标准状态

2020-12-09
2021-04-01

标准信息

工业和信息化部
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
制定
L50
31.080.01
方法标准
电子
行业标准
现行
SJ/T 11766-2020
光电耦合器件低频噪声参数测试方法

适用范围

适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

起草人

余永涛、胡为、张伟 等

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