SJ/T 11767-2020 标准详情

SJ/T 11767-2020 现行
二极管低频噪声参数测试方法

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标准状态

2020-12-09
2021-04-01

标准信息

工业和信息化部
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
制定
L41
31.080.01
方法标准
电子
行业标准
现行
SJ/T 11767-2020
二极管低频噪声参数测试方法

适用范围

适用于二极管1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

起草人

余永涛、胡为、恩云飞 等

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