GB/T 24581-2022 标准详情

GB/T 24581-2022 现行

硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

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发布日期2022-03-09

实施日期2022-10-01

批准发布部门国家标准委

发布部门国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口国家标准委

中国标准分类号H17

国际标准分类号77.040

标准层级国家标准

标准状态现行

标准号GB/T 24581-2022

标准名硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

标准英文名Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method