GB/T 32281-2015 标准详情
GB/T 32281-2015
现行
太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法
Test method for measuring oxygen, carbon, boron and phosphorus in solar silicon wafers and feedstock by secondary ion mass spectrometry
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
地方标准
DB65/T 3486-2013
现行
太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
国家标准
GB/T 37051-2018
现行
太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer
地方标准
DB13/T 1314-2010
现行
太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片
地方标准
DB65/T 3485-2013
现行
太阳能级多晶硅块少数载流子寿命测量方法
国家标准
GB/T 24582-2023
现行
多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method
下载电子版
正在请求下载信息...