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GB/T 44558-2024 标准详情

GB/T 44558-2024 现行
III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法
Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy

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标准状态

2024-09-29
2025-04-01

标准信息

国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
现行
GB/T 44558-2024
III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法
Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy

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