拼音
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GBT 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分:术语、试验范围
光学
光子学
环境试验

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GBT 12085.10-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 综合振动(正弦)与高温、低温
光学仪器
环境试验
综合振动

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GBT 12084-1989 半导体集成电路TTL电路系列和品种5474F系列的品种
半导体集成电路
TTL电路
5474F系列

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GBT 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验
光学仪器
环境试验
振动

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GBT 12085.11-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 长霉
光学仪器
环境试验
长霉试验

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GBT 12085.11-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分:长霉
光学仪器
环境试验
长霉试验

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GBT 12085.11-2022 光学和光子学 环境试验方法 第11部分:长霉
光学
光子学
环境试验

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GBT 12085.12-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第12部分:污染
光学仪器
环境试验
污染

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GBT 12085.12-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 污染
光学仪器
环境试验
污染

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GBT 12085.12-2022 光学和光子学 环境试验方法 第12部分:污染
光学
光子学
环境试验

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