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    DB13T 1314-2010 太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片
    太阳能级单晶硅方棒单晶硅片半导体材料光伏
    18 浏览2025-06-04 更新pdf0.46MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片的术语和定义、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以直拉法生长的太阳能级单晶硅为原料,经加工制成的太阳能级单晶硅方棒及单晶硅片。
    Title:Solar Grade Monocrystalline Silicon Bars and Wafers
    中国标准分类号:K21
    国际标准分类号:29.060.99

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    DB13T 1314-2010 太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片
  • 拓展解读

    DB13/T 1314-2010《太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片》是一项河北省地方标准,主要用于规范太阳能级单晶硅材料的生产与检测。以下是对该标准中一些重要条文的详细解读。

    技术要求

    # 1. 外观质量

    单晶硅方棒和硅片应无明显的裂纹、缺角、划痕等缺陷。这一要求确保了产品的物理完整性,避免在后续加工或使用过程中因外观缺陷导致性能下降。

    # 2. 尺寸偏差

    单晶硅方棒的长度偏差应在±5mm范围内,直径偏差不超过±1mm。硅片的厚度偏差不得超过±0.1mm,且同一批次内厚度差异不大于0.05mm。这些严格的规定保证了产品的尺寸一致性,这对于光伏组件的组装至关重要。

    # 3. 表面电阻率

    单晶硅方棒的表面电阻率应在10Ω·cm至100Ω·cm之间。对于硅片而言,同一片上的电阻率变化不应超过±10%。这样的控制范围有助于确保光电转换效率的一致性。

    # 4. 晶向

    单晶硅方棒和硅片的晶向需符合规定的要求,通常为<100>方向。正确的晶向选择可以提高材料的机械强度和电学性能。

    检验方法

    # 1. 外观检查

    采用目视或放大镜检查的方法来评估单晶硅方棒和硅片的外观质量。必要时可使用显微镜观察细微缺陷。

    # 2. 尺寸测量

    使用游标卡尺或其他精密量具对单晶硅方棒和硅片进行精确测量,以验证其是否符合标准规定的尺寸偏差。

    # 3. 表面电阻率测试

    通过四探针法测定单晶硅方棒和硅片的表面电阻率。此方法简单易行,能够快速获得准确的结果。

    验收规则

    产品验收按照抽样检验的方式进行,样本数量根据批量大小确定。如果初次检验不合格,则需要从同批产品中加倍取样复检。只有当所有项目均合格时,才能判定该批次产品合格。

    以上是对DB13/T 1314-2010标准中部分内容的深入解析,希望对你有所帮助。在实际应用中,请务必参照最新版本的标准文件,并结合具体情况进行调整。

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