DB13T 1314-2010 太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片

摘要：本文件规定了太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片的术语和定义、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以直拉法生长的太阳能级单晶硅为原料，经加工制成的太阳能级单晶硅方棒及单晶硅片。
Title：Solar Grade Monocrystalline Silicon Bars and Wafers
中国标准分类号：K21
国际标准分类号：29.060.99

DB13/T 1314-2010《太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片》是一项河北省地方标准，主要用于规范太阳能级单晶硅材料的生产与检测。以下是对该标准中一些重要条文的详细解读。

### 技术要求

#### 1. 外观质量

单晶硅方棒和硅片应无明显的裂纹、缺角、划痕等缺陷。这一要求确保了产品的物理完整性，避免在后续加工或使用过程中因外观缺陷导致性能下降。

#### 2. 尺寸偏差

单晶硅方棒的长度偏差应在±5mm范围内，直径偏差不超过±1mm。硅片的厚度偏差不得超过±0.1mm，且同一批次内厚度差异不大于0.05mm。这些严格的规定保证了产品的尺寸一致性，这对于光伏组件的组装至关重要。

#### 3. 表面电阻率

单晶硅方棒的表面电阻率应在10Ω·cm至100Ω·cm之间。对于硅片而言，同一片上的电阻率变化不应超过±10%。这样的控制范围有助于确保光电转换效率的一致性。

#### 4. 晶向

单晶硅方棒和硅片的晶向需符合规定的要求，通常为<100>方向。正确的晶向选择可以提高材料的机械强度和电学性能。

### 检验方法

#### 1. 外观检查

采用目视或放大镜检查的方法来评估单晶硅方棒和硅片的外观质量。必要时可使用显微镜观察细微缺陷。

#### 2. 尺寸测量

使用游标卡尺或其他精密量具对单晶硅方棒和硅片进行精确测量，以验证其是否符合标准规定的尺寸偏差。

#### 3. 表面电阻率测试

通过四探针法测定单晶硅方棒和硅片的表面电阻率。此方法简单易行，能够快速获得准确的结果。

### 验收规则

产品验收按照抽样检验的方式进行，样本数量根据批量大小确定。如果初次检验不合格，则需要从同批产品中加倍取样复检。只有当所有项目均合格时，才能判定该批次产品合格。

以上是对DB13/T 1314-2010标准中部分内容的深入解析，希望对你有所帮助。在实际应用中，请务必参照最新版本的标准文件，并结合具体情况进行调整。