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摘要:本文件规定了使用IC带状线法对集成电路进行辐射抗扰度测量的方法和要求。本文件适用于评估集成电路在电磁环境下的抗扰性能。
Title:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Radiated disturbance immunity measurement - IC stripline method
中国标准分类号:L75
国际标准分类号:31.080
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拓展解读
随着现代电子技术的发展,集成电路(IC)作为核心元件在各类电子产品中的应用日益广泛。然而,随着设备复杂性的增加,电磁干扰(EMI)问题也愈发突出。为了确保集成电路能够在复杂的电磁环境中稳定运行,电磁抗扰度测量成为一项关键的技术手段。其中,辐射抗扰度测量是评估集成电路对电磁辐射干扰抵抗能力的重要方法之一。而GB/T 42968.8-2023标准中提到的IC带状线法,则为辐射抗扰度测量提供了科学、系统的解决方案。
辐射抗扰度测量是指通过模拟外界电磁环境,测试集成电路在特定频率范围内的抗干扰性能。这一过程对于保障电子产品的可靠性和安全性至关重要。例如,在航空航天、工业控制和汽车电子等领域,集成电路需要在强电磁环境下正常工作,否则可能导致系统故障甚至安全隐患。因此,辐射抗扰度测量不仅是产品设计阶段的重要环节,也是质量控制和认证的关键步骤。
IC带状线法是一种基于传输线理论的辐射抗扰度测量方法。其核心思想是利用带状线结构将电磁能量耦合到被测集成电路中,从而模拟真实环境下的辐射干扰场景。这种方法具有以下特点:
此外,GB/T 42968.8-2023标准还规定了详细的测试流程和技术要求,包括测试环境的设置、信号源的选择以及数据采集方法等,确保测试结果的准确性和可重复性。
以某知名汽车电子公司为例,该公司在研发新一代车载ECU时采用了IC带状线法进行辐射抗扰度测试。测试结果显示,该ECU在100MHz至4GHz频段内表现出色,能够有效抵抗高强度电磁干扰。以下是具体的测试数据:
通过IC带状线法的测试,该公司不仅验证了产品的电磁兼容性,还发现了潜在的设计缺陷,进一步优化了电路布局和屏蔽措施。这一案例充分证明了IC带状线法在实际工程中的应用价值。
随着5G通信、物联网等新兴技术的快速发展,集成电路面临的电磁干扰环境将更加复杂。在此背景下,IC带状线法有望在以下几个方面取得突破:
总之,GB/T 42968.8-2023标准中的IC带状线法为集成电路辐射抗扰度测量提供了可靠的工具和方法。它不仅推动了电磁兼容技术的进步,也为电子产品的高质量发展奠定了坚实的基础。