电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理 GBT 42706.2-2023

摘要：本文件规定了电子元器件中半导体器件长期贮存过程中的退化机理及其评估方法。本文件适用于半导体器件的设计、生产、存储和使用环节的可靠性评估与管理。
Title：Electronic Components - Semiconductor Devices Long-term Storage - Part 2: Degradation Mechanisms
中国标准分类号：L78
国际标准分类号：31.020

主要内容

本标准规定了电子元器件和半导体器件在长期贮存过程中的退化机理，并提供了相应的检测方法和技术要求。适用于确保这些器件在贮存期间性能的稳定性和可靠性。

• 适用范围：适用于各种类型的电子元器件和半导体器件。
• 检测方法：详细描述了如何通过实验和分析来评估器件的退化情况。
• 技术要求：提出了在不同环境条件下器件应满足的性能指标。

与老版本的变化

与旧版相比，新版标准在以下几个方面进行了更新和改进：

• 更全面的退化机理分析：增加了对新型材料和工艺导致的退化现象的研究。
• 新的检测技术：引入了先进的测试技术和设备，提高了检测的准确性和效率。
• 扩展的环境条件：涵盖了更多极端环境条件下的测试场景，以适应更广泛的应用需求。
• 增强的安全性要求：加强了对器件在长期贮存过程中可能产生的安全隐患的防范措施。