半导体集成电路 驱动器测试方法 GBT 42975-2023

摘要：本文件规定了半导体集成电路驱动器的测试方法，包括测试条件、测试设备要求、测试步骤和结果分析。本文件适用于各类半导体集成电路驱动器的性能评估与质量检测。
Title：Test Methods for Semiconductor Integrated Circuit Drivers
中国标准分类号：L78
国际标准分类号：31.140

GBT 42975-2023 半导体集成电路驱动器测试方法

GBT 42975-2023 是一项关于半导体集成电路驱动器测试方法的国家标准，旨在规范和优化驱动器的测试流程与性能评估。以下是该标准的主要内容及与旧版标准的主要变化。

主要内容

• 测试范围: 明确了适用于各类半导体集成电路驱动器的测试环境、条件及参数。
• 测试项目: 包括电气特性测试、热特性测试、可靠性测试等，新增了对高频响应特性的测试要求。
• 测试方法: 提供详细的测试步骤和设备配置建议，强调自动化测试系统的应用。
• 结果分析: 引入更精确的数据处理算法，用于评估驱动器性能的稳定性与一致性。

与老版本的变化

• 新增内容:
  • 增加了对高频响应特性和低功耗模式的支持。
  • 引入了基于人工智能的故障诊断技术。
• 改进部分:
  • 优化了测试环境的温度控制精度要求。
  • 简化了部分测试流程，提高了测试效率。
• 删除内容:
  • 移除了过时的测试方法，如手动调节测试仪器。