-
资源简介
摘要：本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器的测试方法，包括测试条件、测试项目、测试设备要求及测试结果的判定准则。本文件适用于半导体集成电路中直接数字频率合成器的设计验证、生产测试及质量评估。
Title：Test Methods for Direct Digital Frequency Synthesizers in Semiconductor Integrated Circuits
中国标准分类号：L75
国际标准分类号：31.140 -
封面预览
-
拓展解读
主要内容
《半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 GBT 42848-2023》规定了直接数字频率合成器（DDS）的测试方法，适用于半导体集成电路中的DDS产品。标准内容主要包括以下几个方面：
- 测试环境：明确了测试所需的环境条件，包括温度、湿度和电源要求。
- 测试项目：
- 频率精度测试
- 相位噪声测试
- 杂散信号抑制测试
- 输出功率测试
- 测试步骤：详细描述了每个测试项目的具体操作流程。
- 数据处理与结果分析：提供了测试数据的处理方法及结果分析的标准。
与老版本的变化
相比旧版本，新标准在以下几个方面进行了更新和改进：
- 更严格的环境要求：新版标准对测试环境提出了更高的要求，以确保测试结果的准确性。
- 新增测试项目：
- 增加了对杂散信号抑制能力的测试。
- 细化了频率精度测试的具体指标。
- 优化测试流程：简化了一些测试步骤，并提供了更详细的说明，便于实际操作。
- 增强数据可靠性：引入了新的数据分析工具和方法，提高了测试结果的可信度。
-
下载说明
预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。
当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。
资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。
如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。