资源简介
摘要:本文件规定了膜集成电路和混合膜集成电路的内部目检要求,包括检测方法、检测条件、合格判定准则等内容。本文件适用于膜集成电路和混合膜集成电路的设计、生产、验收及质量控制过程。
Title:Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 20: General Specification for Thin Film Integrated Circuits and Hybrid Thin Film Integrated Circuits - Section One: Internal Visual Inspection Requirements
中国标准分类号:M53
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
在遵循GBT 43035-2023
标准的前提下,通过优化流程和降低生产成本,可以实现更高效的内部目检操作。以下是10项具有弹性的实施方案:
以上方案旨在通过技术创新、资源整合和流程优化,在保障产品质量的同时,有效降低运营成本,提升整体竞争力。
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