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摘要:本文件规定了半导体集成电路用多层陶瓷双列直插外壳的结构、材料、尺寸、性能要求及检验方法。本文件适用于采用多层陶瓷工艺制造的双列直插外壳的设计、生产和验收。
Title:Detailed Specification for Multilayer Ceramic Dual-In-Line Packages for Semiconductor Integrated Circuits
中国标准分类号:M52
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
以下是关于SJT 10175-1991标准中涉及的半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳(MLCC DIP)的一些常见问题及其详细解答。
SJT 10175-1991是中国国家标准化管理委员会发布的关于半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳的详细规范。该标准主要规定了此类外壳的设计、制造、检验和验收要求,适用于电子工业中的集成电路封装。
根据SJT 10175-1991标准,MLCC DIP外壳的尺寸范围通常包括多种规格,例如20引脚、40引脚等。具体尺寸需参考产品图纸或制造商提供的数据手册。
MLCC DIP外壳的工作温度范围一般为-55°C至+125°C,具体范围可能因制造商的不同而有所差异。
外壳的使用寿命通常通过老化试验和可靠性测试来评估。根据标准要求,外壳需在极端条件下运行数千小时,以验证其长期稳定性。