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    SJT 10175-1991 半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳详细规范
    半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳详细规范封装技术
    19 浏览2025-06-07 更新pdf0.29MB 未评分
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    摘要:本文件规定了半导体集成电路用多层陶瓷双列直插外壳的结构、材料、尺寸、性能要求及检验方法。本文件适用于采用多层陶瓷工艺制造的双列直插外壳的设计、生产和验收。
    Title:Detailed Specification for Multilayer Ceramic Dual-In-Line Packages for Semiconductor Integrated Circuits
    中国标准分类号:M52
    国际标准分类号:31.140

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    SJT 10175-1991 半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳详细规范
  • 拓展解读

    关于SJT 10175-1991半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳常见问题解答

    以下是关于SJT 10175-1991标准中涉及的半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳(MLCC DIP)的一些常见问题及其详细解答。

    优先级1:基本概念与定义

    什么是SJT 10175-1991标准?

    SJT 10175-1991是中国国家标准化管理委员会发布的关于半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳的详细规范。该标准主要规定了此类外壳的设计、制造、检验和验收要求,适用于电子工业中的集成电路封装。

    MLCC DIP外壳的主要特点是什么?

    • 材料:采用多层陶瓷材料,具有良好的热稳定性和绝缘性能。
    • 结构:双列直插式设计,便于安装在印刷电路板上。
    • 用途:主要用于封装半导体集成电路芯片。

    优先级2:技术参数与规格

    MLCC DIP外壳的尺寸范围是多少?

    根据SJT 10175-1991标准,MLCC DIP外壳的尺寸范围通常包括多种规格,例如20引脚、40引脚等。具体尺寸需参考产品图纸或制造商提供的数据手册。

    外壳的工作温度范围是多少?

    MLCC DIP外壳的工作温度范围一般为-55°C至+125°C,具体范围可能因制造商的不同而有所差异。

    优先级3:制造与质量控制

    如何确保MLCC DIP外壳的质量?

    • 严格按照SJT 10175-1991标准进行设计和生产。
    • 在生产过程中实施严格的工艺控制和质量检测。
    • 成品需通过电气性能测试、机械强度测试和环境适应性测试。

    外壳的使用寿命如何评估?

    外壳的使用寿命通常通过老化试验和可靠性测试来评估。根据标准要求,外壳需在极端条件下运行数千小时,以验证其长期稳定性。

    优先级4:应用与维护

    如何正确安装MLCC DIP外壳?

    • 确保外壳引脚与电路板焊盘对齐。
    • 焊接时使用适当的温度曲线,避免过热损坏外壳。
    • 安装完成后检查外壳是否牢固固定。

    外壳在使用过程中需要注意哪些事项?

    • 避免外壳受到物理冲击或振动。
    • 定期清洁外壳表面,防止灰尘积累影响散热。
    • 确保工作环境符合规定的温度和湿度范围。
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