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摘要:本文件规定了半导体集成电路F型陶瓷扁平外壳的尺寸、材料、性能要求及测试方法。本文件适用于采用F型陶瓷扁平外壳封装的半导体集成电路的设计、制造和检验。
Title:Specification for F-type Ceramic Flat Package of Semiconductor Integrated Circuits
中国标准分类号:M52
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
优先级:高
SJ 514202-1998 是中国国家军用标准,规定了半导体集成电路中 F 型陶瓷扁平外壳的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装等内容。该标准适用于军用电子设备中半导体集成电路的封装。
F型陶瓷扁平外壳具有以下主要特点:
根据 SJ 514202-1998 标准,F型陶瓷扁平外壳的具体尺寸要求如下:
气密性是 F型陶瓷扁平外壳的重要性能指标,其保证措施包括:
F型陶瓷扁平外壳的电气性能要求主要包括:
选择 F型陶瓷扁平外壳时需要考虑以下因素:
F型陶瓷扁平外壳的使用寿命与其使用环境密切相关。在正常条件下,其使用寿命可达 10年以上。为了延长使用寿命,应注意以下几点:
SJ 514202-1998 标准主要针对军用领域制定,但其技术指标和质量要求同样适用于部分高端民用领域,例如通信设备、医疗仪器等。然而,由于成本较高,通常不作为首选方案。
根据 SJ 514202-1998 标准,F型陶瓷扁平外壳的检验项目包括:
为了确保 F型陶瓷扁平外壳的质量,建议采取以下存储措施: