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资源简介
摘要：本文件规定了四探针探头的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体材料电阻率测量用的四探针探头。
Title：General Technical Requirements for Four-Point Probe
中国标准分类号：M63
国际标准分类号：25.160 -
封面预览
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拓展解读
主要内容
SJT 10315-1992《四探针探头通用技术条件》规定了四探针探头的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装和贮存等内容。适用于半导体材料电阻率测试用的四探针探头。
对比老版本的变化
- 技术要求：
- 增加了对探头材料的新要求，以提高耐久性和精度。
- 对探针间距的公差范围进行了更严格的限定。
- 试验方法：
- 引入了新的测试环境条件，如温度和湿度的控制要求。
- 改进了测量精度的评估方法。
- 检验规则：
- 加强了出厂检验的要求，确保每件产品符合标准。
- 增加了型式检验的项目，涵盖更多关键性能指标。
- 标志、包装和贮存：
- 更新了包装材料的标准，以更好地保护探头免受运输过程中的损坏。
- 明确了贮存环境的具体要求，防止探头因不当存储而失效。
- 技术要求：
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