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资源简介
摘要：本文件规定了半导体电阻应变计的详细技术要求、测试方法及评定标准，达到评定水平E（可供认证用）。本文件适用于半导体电阻应变计的设计、生产和质量检测。
Title：Semiconductor Resistive Strain Gauge - Detailed Specification - Evaluation Level E for Certification
中国标准分类号：M53
国际标准分类号：17.120 -
封面预览
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拓展解读
主要内容
SJT 10436-1993《半导体电阻应变计空白详细规范评定水平E(可供认证用)》规定了半导体电阻应变计的详细技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。本标准适用于评定半导体电阻应变计的质量水平。
对比老版本的变化
- 技术要求： 新版标准对半导体电阻应变计的技术指标进行了细化，增加了对环境适应性的具体要求。
- 试验方法： 引入了更先进的测试手段和方法，以确保检测结果的准确性和可靠性。
- 检验规则： 对产品的抽样方案和判定规则进行了优化，提高了产品质量控制的有效性。
- 标志、包装、运输和贮存： 新增了对产品包装材料环保性的要求，并完善了运输过程中的防护措施。
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