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资源简介
摘要：本文件规定了G2-01B-M1型和G2-01B-Z1型半导体光敏器件金属外壳的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于G2-01B-M1型和G2-01B-Z1型半导体光敏器件金属外壳的生产、检验和验收。
Title：Detailed Specifications for Metal Enclosures of G2-01B-M1 and G2-01B-Z1 Semiconductor Photoelectric Devices
中国标准分类号：M63
国际标准分类号：31.140 -
封面预览
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拓展解读
主要内容
SJ 509232-1995 是关于 G2-01B-M1型 和 G2-01B-Z1型 半导体光敏器件金属外壳的详细规范。该标准主要规定了这些金属外壳的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。
对比老版本的变化
- 技术要求更新： 新版本对金属外壳的材料性能提出了更高的要求，尤其是耐腐蚀性和机械强度方面。
- 试验方法改进： 引入了更先进的检测手段，例如高精度测量仪器，以确保产品质量的一致性。
- 检验规则加强： 增加了抽样检验的比例，并明确了不合格品的处理流程。
- 标志与包装： 对产品的标识内容进行了细化，增加了防伪措施，并优化了包装材料以提高运输安全性。
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