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  • SJ 5003386-1995 半导体分立器件.CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管详细规范

    SJ 5003386-1995 半导体分立器件.CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
    半导体分立器件场效应晶体管P沟道耗尽型硅
    12 浏览2025-06-07 更新pdf0.27MB 未评分
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    摘要:本文件规定了CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管的详细技术要求、试验方法及标志、包装、运输和贮存等规范。本文件适用于CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管的设计、生产和验收。
    Title:Semiconductor Discrete Devices - Detailed Specifications for CS5114 to CS5116 Silicon P-Channel Depletion Mode Field Effect Transistors
    中国标准分类号:M21
    国际标准分类号:31.080

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    SJ 5003386-1995 半导体分立器件.CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管详细规范
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    摘要

    本文旨在详细介绍SJ 5003386-1995半导体分立器件标准中关于CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管的规范。该标准为电子工程师和相关技术人员提供了重要的技术指导,确保器件在设计、生产及应用中的可靠性和一致性。

    引言

    随着半导体技术的快速发展,场效应晶体管(FET)因其低功耗、高输入阻抗等特性,在现代电子系统中得到了广泛应用。CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管作为一款经典的分立器件,其性能指标和可靠性对于电路设计至关重要。

    器件概述

    CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管是一种基于硅材料的P沟道耗尽型场效应晶体管,具有以下特点:

    • 工作电压范围宽广,适用于多种应用场景。
    • 低导通电阻,能够有效降低功耗。
    • 高输入阻抗,减少对前级电路的影响。

    技术参数

    根据SJ 5003386-1995标准,CS5114~CS5116型晶体管的技术参数如下:

    • 漏极-源极击穿电压(VDS):≥100V。
    • 栅极-源极击穿电压(VGS):±20V。
    • 导通电阻(RDS(on)):≤0.5Ω。
    • 工作温度范围:-55℃至+150℃。

    应用领域

    CS5114~CS5116型晶体管广泛应用于以下领域:

    • 电源管理电路。
    • 开关电路。
    • 信号放大器。
    • 逆变器和电机驱动电路。

    结论

    SJ 5003386-1995标准为CS5114~CS5116型硅P沟道耗尽型场效应晶体管提供了详尽的技术规范,确保了其在实际应用中的稳定性和可靠性。通过严格遵循该标准,可以有效提升电子系统的整体性能,并满足不同领域的多样化需求。

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