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    SJ 50033154-2002 半导体分立器件.3DG251型硅超高频低噪声晶体管.详细规范
    半导体分立器件3DG251硅超高频低噪声晶体管详细规范电子元器件
    7 浏览2025-06-07 更新pdf0.34MB 未评分
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    摘要:本文件规定了3DG251型硅超高频低噪声晶体管的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于3DG251型硅超高频低噪声晶体管的设计、生产和验收。
    Title:Semiconductor Discrete Devices - Specification for Silicon UHF Low Noise Transistor Type 3DG251
    中国标准分类号:M41
    国际标准分类号:31.080.20

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    SJ 50033154-2002 半导体分立器件.3DG251型硅超高频低噪声晶体管.详细规范
  • 拓展解读

    概述

    SJ 50033154-2002 是关于半导体分立器件中 3DG251 型硅超高频低噪声晶体管的详细规范。该标准规定了晶体管的技术要求、测试方法、检验规则以及标志、包装等内容。

    主要内容

    • 技术要求:
      • 明确了晶体管的电气参数,包括工作频率范围、电流增益、噪声系数等。
      • 对晶体管的物理特性如外形尺寸、引脚排列等进行了详细描述。
    • 测试方法:
      • 详细说明了如何进行电气性能测试和可靠性测试。
      • 引入了新的测试设备和技术以提高测试精度。
    • 检验规则:
      • 规定了产品的抽样方案和合格判定准则。
      • 增加了对老化试验的要求。
    • 标志与包装:
      • 明确了产品的标识内容和包装要求。
      • 改进了包装材料以增强防护性能。

    与老版本的变化

    • 新增了更高频率范围的支持。
    • 优化了噪声系数的指标要求。
    • 更新了部分测试设备和方法以适应现代生产需求。
    • 加强了产品可靠性的评估和验证。
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