-
资源简介
摘要：本文件规定了GD3283Y型位敏探测器的详细技术要求、测试方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存要求。本文件适用于GD3283Y型位敏探测器的设计、生产和验收。
Title：Semiconductor Optoelectronic Devices - Detailed Specifications for GD3283Y Type Position-Sensitive Detector
中国标准分类号：O72
国际标准分类号：31.140 -
封面预览
-
拓展解读
摘要
SJ 50033114-1996 是一项关于半导体光电子器件的国家标准，其中详细规定了 GD3283Y 型位敏探测器的技术要求和测试方法。本文将从技术规格、应用领域以及性能指标等方面对 GD3283Y 型位敏探测器进行深入分析。
引言
随着半导体技术的发展，光电子器件在现代科技中的应用越来越广泛。GD3283Y 型位敏探测器作为一种高精度的光电转换设备，其性能直接影响到相关系统的稳定性和可靠性。本标准的制定旨在为该类器件的设计、生产及检测提供统一的技术依据。
技术规格
- 工作波长范围：400nm 至 1100nm
- 响应时间：小于 1 微秒
- 灵敏度：≥ 0.8 A/W
- 线性度：优于 ±1%
- 温度适应范围：-40°C 至 +85°C
应用领域
GD3283Y 型位敏探测器广泛应用于以下几个领域：
- 激光测距与定位系统
- 工业自动化控制
- 光学通信设备
- 医疗成像设备
性能指标
根据 SJ 50033114-1996 标准，GD3283Y 型位敏探测器的性能指标需满足以下要求：
- 高灵敏度确保信号采集的准确性
- 快速响应时间保证实时数据处理能力
- 宽广的工作波长范围适用于多种光源
- 良好的温度稳定性适合恶劣环境下的使用
结论
GD3283Y 型位敏探测器凭借其卓越的技术性能，在多个高科技领域展现出巨大的应用潜力。通过遵循 SJ 50033114-1996 标准，可以有效提升产品的质量和市场竞争力。
-
下载说明预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。 当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。 资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。 如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。