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    SJ 2747-1987 阶跃恢复二极管空白详细规范
    阶跃恢复二极管半导体器件电子元件技术要求测试方法
    13 浏览2025-06-07 更新pdf0.53MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了阶跃恢复二极管的术语、定义、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于阶跃恢复二极管的设计、生产和验收。
    Title:Step Recovery Diode - Specifications and Test Methods
    中国标准分类号:M51
    国际标准分类号:31.120

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    SJ 2747-1987 阶跃恢复二极管空白详细规范
  • 拓展解读

    概述

    SJ 2747-1987《阶跃恢复二极管空白详细规范》是关于阶跃恢复二极管的技术标准文件,用于指导该类产品的设计、生产和检测。以下将总结其主要内容,并对比与老版本的变化。

    主要内容

    • 适用范围:规定了阶跃恢复二极管的适用领域和基本要求。
    • 技术要求:
      • 明确了二极管的电气特性,包括反向恢复时间和正向压降等参数。
      • 对材料和结构提出了具体要求,确保产品性能稳定。
    • 试验方法:详细描述了测试阶跃恢复二极管性能的方法和步骤。
    • 检验规则:规定了产品的检验流程和合格判定标准。
    • 标志与包装:对产品的标识和包装方式进行了规范。

    与老版本的变化

    • 增加了对环保材料的要求,以符合现代环保标准。
    • 优化了部分测试方法,提高了测量精度。
    • 调整了某些关键参数的限值,使其更贴近实际应用需求。
    • 强化了对生产过程的质量控制要求,提升了整体产品质量。
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