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摘要:本文件规定了微波低噪声单栅场效应晶体管的技术要求、测试方法和质量评定程序。本文件适用于工作频率范围内的微波低噪声单栅场效应晶体管的设计、生产和验收。
Title:Specification for Microwave Low Noise Single-Gate Field Effect Transistors
中国标准分类号:M22
国际标准分类号:31.080
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拓展解读
SJ 2748-1987 微波低噪声单栅场效应晶体管空白详细规范是电子元件领域的重要标准之一,用于指导微波低噪声单栅场效应晶体管的设计、生产和测试。以下是关于此规范的常见问题及其详细解答。
问题描述:什么是SJ 2748-1987标准?
详细回答:SJ 2748-1987是中国国家标准化管理委员会发布的关于微波低噪声单栅场效应晶体管的空白详细规范。它规定了此类器件的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等内容,适用于微波通信设备中的低噪声放大器设计与制造。
问题描述:微波低噪声单栅场效应晶体管的主要用途是什么?
详细回答:这种晶体管主要用于微波通信系统中的低噪声放大器(LNA)。其主要功能是在保持较低噪声系数的同时,提供稳定的增益,从而提高信号接收的灵敏度和可靠性。
问题描述:如何理解SJ 2748-1987中规定的噪声系数指标?
详细回答:噪声系数(Noise Figure, NF)是衡量晶体管在微波频段内引入额外噪声的能力。根据SJ 2748-1987的规定,低噪声单栅场效应晶体管的噪声系数通常要求小于或等于某个特定值(例如1 dB),以确保系统的整体性能。
问题描述:增益指标是如何定义的?
详细回答:增益是指晶体管将输入信号功率转换为输出信号功率的能力。SJ 2748-1987中对增益的要求通常包括最小增益值(如10 dB)以及工作频率范围内的增益平坦度。
问题描述:如何进行SJ 2748-1987规定的试验方法?
详细回答:试验方法主要包括电学性能测试(如噪声系数、增益、输入/输出阻抗等)、环境适应性测试(如温度循环、湿度测试)以及机械强度测试(如振动、冲击)。这些测试需严格按照标准规定的步骤和条件执行。
问题描述:如果产品不符合SJ 2748-1987的要求怎么办?
详细回答:若产品未达到标准要求,则需要重新调整生产工艺或改进设计。必要时,可与客户协商修改技术指标或重新认证。同时,需记录所有测试数据并分析原因,以避免类似问题再次发生。
问题描述:如何正确使用SJ 2748-1987标准中的晶体管?
详细回答:在使用过程中,应严格遵守标准中规定的额定工作条件(如电压、电流、温度范围等),并定期检查器件的电气性能。此外,还需注意防静电措施,避免因不当操作导致器件损坏。
问题描述:晶体管的存储和运输需要注意哪些事项?
详细回答:存储时应避免高温、高湿环境,建议使用防静电包装袋;运输过程中需防止剧烈震动和碰撞,确保包装完整无损。